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| 詳細(xì)信息 |
| 信息編號(hào)：S605334
【價(jià)格電議】2012年納克火花光譜儀750 ，機(jī)器新，少用，看上的聯(lián)系·~！ 2012年納克火花光譜儀750 ，機(jī)器新，少用，看上的聯(lián)系·~！納克直讀光譜儀Labspark 750廣泛應(yīng)用于冶金、鑄造、機(jī)械、金屬加工、汽車制造、有色、航空航天、兵器、化工等領(lǐng)域的生產(chǎn)過程控制，中心實(shí)驗(yàn)室成品檢驗(yàn)等，可用于Fe、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb等多種金屬及其合金樣品分析�？蓪�(duì)片狀、塊狀以及棒狀的固體樣品中的非金屬元素（C、P、S、B等）以及金屬元素進(jìn)行準(zhǔn)確定量分析，分析結(jié)果準(zhǔn)確，分析精度高。儀器日常維護(hù)簡(jiǎn)單，運(yùn)行成本低，故障率低。 儀器參數(shù) 焦距:750mm 譜線范圍:120-800nm 高能預(yù)火花光源，激發(fā)頻率:300-1000Hz 帕邢-龍格架構(gòu)法，真空光學(xué)系統(tǒng) 光電倍增管檢測(cè)器 光柵刻線2400條/mm 工作環(huán)境：溫度10－40℃ 濕度＜80％ 電源：220V 16A 2.5KVA 重量：350Kg 儀器尺寸：長(zhǎng)105×深85×高120cm 整體出射狹縫，預(yù)留240條激發(fā)能量、頻率連續(xù)可調(diào)全數(shù)字固態(tài)光源，適應(yīng)各種不同材料原位單次放電采集的專利技術(shù)（SDA）有效提高分析精度可變延時(shí)積分技術(shù)，大大降低背景干擾高精度光電倍增管負(fù)高壓獨(dú)立供電連續(xù)可調(diào)技術(shù)，調(diào)整更精確，可程序調(diào)整，提高動(dòng)態(tài)范圍單板式透鏡架，擦拭時(shí)大大降低對(duì)光室的污染基于ARM9的儀器狀態(tài)實(shí)時(shí)監(jiān)控系統(tǒng)USB采集，通用性更強(qiáng)固態(tài)吸附阱，防止油氣對(duì)光室的污染，提高長(zhǎng)期運(yùn)行穩(wěn)定性綠光背景燈，加快響應(yīng)速度，提高短期分析精度銅火花臺(tái)底座，提高散熱性及堅(jiān)固性能 設(shè)備在廣東 |
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